A2b分组集电极-基极截止电流(IE=0) 检测实验

超声角膜测厚仪

简介

超声角膜测厚仪

简介

眼科高频超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用超声设备。不包括适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科高频超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科高频超声诊断仪品名举例：眼科高频超声诊断仪、眼科超声生物显微镜

眼科高频超声诊断仪管理类别：Ⅲ

眼科B型超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用的适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科B型超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科B型超声诊断仪品名举例：眼科B型超声诊断仪、超声角膜测厚仪、眼科A型超声测量仪、眼科AB型超声诊断仪

眼科B型超声诊断仪管理类别：Ⅱ

眼科超声诊断设备相关指导原则：
1、眼科超声诊断设备注册技术审查指导原则
2、眼科高频超声诊断仪注册技术审查指导原则

眼科超声诊断设备相关标准：
1、YY/T 0718-2009 眼科仪器检影镜
2、YY/T 1080-2009 眼科仪器直接检眼镜
3、YY/T 0756-2009 光学和光学仪器激光和激光相关设备激光光束功率（能量）密度分布的试验方法
4、YY/T 0107-2015 眼科A型超声测量仪
5、YY/T 0773-2010 眼科B型超声诊断仪通用技术条件
6、YY/T 0787-2010 眼科仪器角膜地形图仪

眼科超声诊断设备相关检测项目：
眼科高频超声诊断仪1 . 要求《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
2 . 工作条件《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
3 . 性能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
4 . 功能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
5 . 安全《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
6 . 外观和结构《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
7 . 环境试验《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
眼科B型超声诊断仪8 . 要求《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
9 . 工作条件《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
10 . 性能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
11 . 功能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
12 . 安全《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
13 . 外观和结构《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
14 . 环境试验《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：集电极—基极截止电流检测样品：半导体晶体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分第4章：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：集电极—基极截止电流检测样品：半导体晶体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分第4章：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：集电极—基极截止电流检测样品：半导体晶体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分第4章：双极型晶体管GB/T4587-1994

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：场效应晶体管标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法方法3011

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：集电极-基极暗电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章2.1条第Ⅳ章2.2条第Ⅳ章3条第Ⅳ章4.2条第Ⅳ

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检测项：集电极-基极击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章2.1条第Ⅳ章2.2条第Ⅳ章3条第Ⅳ章4.2条第Ⅳ

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：集电极—基极截止电流检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

检测项：发射极—基极截止电流检测样品：固定电感器标准：电子设备用固定电感器_第2部分_分规范表面安装电感器 SJ/T 11287-2003

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：双极型晶体管标准：1、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管 2、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：双极型晶体管标准：1、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管 2、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

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超声角膜测厚仪

简介

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